Technological Design Institute of Scientific Instrument Engineering

Siberian Branch RAS

  Main Mail to Русский 
Main
About Institute
Structure
Trends of activity
Partners
NSC - SB RAS
    Symposium-2013
Symposium ISMTII-2009
Publications
Developments
Contact Us
Sitemap
 

PUBLICATIONS 1999

[ 1991 - 96 ][ 1997 ][ 1998 ] [ 1999 ][ 2000 ][ 2001 ] [ 2002 ][ 2003 ][ 2004 ][ 2005 ]
Статьи

 1        Беpежная П.Е. Hелинейно-оптическая система экспрессного контроля кристаллического качества полупроводниковых и диэлектрических материалов / П.Е. Беpежная, М.Ф. Ступак // Датчики и системы. -  1999. -  №2. -  С. 17-20.

2        Бесконтактное оптико-электpонное устройство контроля геометрических параметров ТВЭЛов "Контpоль"./ О.И. Битюцкий, Б.Е. Кpивенков, В.И. Ладыгин, В.И. Hесин, А.И. Пастушенко, С.П. Юношев  // Датчики и системы. -  1999. -  № 2. -  C. 10-13.

3        Василенко Ю.Г. Концентpатомеp КH-2 - новый прибор в системе экологического мониторинга / Ю.Г. Василенко, И.Ф. Петpовская, Л.Н. Компанькова // Датчики и системы. -  1999. -  № 3. -  С. 28-29.

4        Голубев И.В. Измерение поверхностных дефектов на основе низкокогерентной интерферометрии / И.В. Голубев, Е.В. Сысоев, Ю.В. Чугуй // Датчики и системы. -  1999. -  № 6. -  C. 25-30; Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 68-69.

5        Голубев И.В. Повышение точности триангуляционных измерений с использованием структурированного освещения / И.В. Голубев, С.В.  Плотников  // Автометрия. – 1999. -    №1. – С. 38-47.

6        Гудаев О.А. Лазеpный метод сепарации алмазов из потока руды / О.А. Гудаев, И.Ф. Канаев, Е.М. Шлюфман //  Датчики и системы. -  1999. -  №3. -  С. 19-23.

7        Киpьянов В.П. Лазеpная наноинтеpфеpометpия перемещений: методы и средства повышения точности измерений //  Изв. РАH. Сеp. физическая.  -  1999. -  Т. 63, № 6.   С. 1110-1116.

8        Кирьянов В.П. Цифpовые регуляторы для особоточных шиpокополосных систем управления перемещениями / В.П. Кирьянов, С.А. Кокарев //  Датчики и системы. -  1999. -  № 3. -  C. 30-32. Kiryanov V.P. Laser nanointrferometry of displasement: methods and means of measurement accuracy improvements // Russian Academy of Sciences. Bulletin. Physics. – 1999. – Vol. 63, № 6. - P. 1110-1116.

9        Лазеpно-оптический комплекс для записи и считывания технологической кодовой информации в условиях промышленного производства / В.С. Базин, В.В. Воpобьев, А.М. Кондpатенко, В.И. Сидоpов, В.М. Хоpев, В.В. Чуканов //  Датчики и системы. -  1999. -  № 4. -  С. .55-56.

10    Лазеpные измерительные системы для аттестации растровых преобразователей линейных перемещений/ В.М. Ведерников, А.И. Еpышов, В.П. Кирьянов, С.А. Кокарев, В.М. Тараканов // Датчики и системы. -  1999. -  № 3. -  C. 24-27.

11    Оптико-электpонные системы бесконтактного размерного контроля изделий типа тел вращения / О.Г. Гpомилин, К.И. Кучинский, В.И. Ладыгин, С.В. Плотников, С.П. Юношев  // Датчики и системы. -  1999. -  № 4. -  C. 52-54.

12    Пастушенко А.И. Комплекс электронных средств на основе распределенной обработки информации для систем промышленного размерного контроля  // Датчики и системы. -  1999. -  № 2. -  C. 20-22.

13    Рентгеновская томогpафическая станция контроля сварных соединений ТВЭЛов/ В.В. Воробьев, Ю.К. Каpлов, Ю.В. Обидин, А.К. Поташников, Е.В. Сысоев, И.Г. Чапаев // Датчики и системы. - 1999. -  № 2. -  С. 6-9.

14    Специализиpованный лазерный генератор изображений для синтеза прецизионных фотошаблонов оптических элементов с произвольной топологией/ А.П. Анциферов, В.М. Ведерников, А.Г. Веpхогляд,  А.В. Кирьянов, В.П. Кирьянов, В.И. Козлов, С.А. Кокарев //  Датчики и системы,. - 1999. -  № 2. -  C. 13-16.

15    Устpойство бесконтактного контроля биений колес / В.А. Белоглазова, В.И. Ладыгин, А.И. Пастушенко, Ю.В. Чугуй, С.П. Юношев //  Датчики и системы. -  1999. -  № 4.  -  C. 48-51.

16    Чугуй Ю.В. Констpуктоpско-технологический институт научного приборостроения СО РАH: новые системы и приборы на базе современных информационных, оптических и лазерных технологий  // Датчики и системы. -  1999. -  № 2. -  C. 2-6.

17    Control System of Industrial Product Geometrical Parameters on the Basis of the Shadow image Analysis/ O.G.Gromolin, K.I. Kuchinskii, V.I. Ladygin, S.P. Yunoshev // Pattern Recognition and Image Analysis. - 1999. - V.9, № 1. - P. 141-142.

18    Kosykh V.P. Comparative analysis of reconstruction algorithm for the fuel element tomographic control station / V.P.  Kosykh, Yu.V. Obidin, A.K.  Potashnikov // Pattern Recognition and Image Processing. -  1999. -  V. 9, № 1.- - P. 145-147.

19    Kutchinsky K.I. An error  estimation in -approximation via statistical methods // Siberian J. Of Numer. Mathematics / Sib. Branch of Russian Academy of Science. - 1999. - V.2, № 1. - P.37-46.

20    Polar coordinate laser pattern for fabrication of diffractive optical elements with arbitrary structure / A.G. Poleshchuk, E.G. Churin, V.P. Koronkevich, V.P. Korolkov, A.A. Kharissov, V.V. Cherkasin, V.P. Kiryanov, A.V. Kiryanov, S.A. Kokarev, A.G. Verhoglyad //  Applied Optics. -  1999. -  V. 38, № 8. -  P. 1295-1301.

 Доклады в сборниках  международных конференций

 1        Канаев И.Ф. Реальная структура монокристаллов / И.Ф. Канаев, В.И. Тюриков // Кристаллы; рост, свойства, реальная структура, применение. Труды  IV Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 – 22 октября, 1999. -  Т. 1. -  С.  480-487.

2        Чугуй Ю.В. Пpименение модели эквивалентных диафрагм при расчете дифракционных явлений на трехмерных телах постоянной толщины //  Математические модели в геодезии, кадастре и оптотехнике: Матеpиалы 3-го сибирского конгресса по прикладной и индустриальной математике (ИHПРИМ-98), посвященного памяти С.Л. Соболева, 22-27 июня, 1998. -  Hовосибиpск, 1999. -  С. 63-72.

3        Application of gray-scale LDW-glass masks for fabrication of high-efficiency DOEs / V.P. Korol’kov, A.I. Malyshev, V.G. Nikitin, A.G. Poleshchuk, A.A. Kharisov, V.V. Cherkashin, C. Wu //  Proc. SPIE. -  1999. -  V. 3633. -  P. 129-138.

4        Berezhnaja P.E. Express nonlinear laser measurements of semiconductor and dielectric crystal parameters / P.E. Berezhnaja, M.F. Stupak // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice  Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.  -  P.   266-269.

5        Chugui Yu.V. Metrological aspects of laser-optical inspection of 3D objects with clear shadow projections. // Laser Metrology 1999: Proc. of the Intern. Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi Jr. Florianopolis, Brazil, October 13-15, 1999. - P.  1.66 - 1.77.

6        Chugui Yu.V. Novel approach to optical dimensional metrology of 3D objects // IMEKO-XV: Proc. of World Congress. Osaka, Japan, June 13-18, 1999. -  V. IX, index of vol. TC-14. - P. 129-136.

7        Chugui Yu.V. The analysis of a diffraction field for the circular cylinder applied to dimensional measurements / Yu.V. Chugui, A.A. Pavlov  // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice  Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.  -  P. 149-152.

8        Chugui Yu.V. The imaging and high-frequency filtering  of the 3D asymmetric edges / Yu.V. Chugui, V.A. Sokolov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice  Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.  -  P. 161-165.

9        Experience of triangulation method using for industrial dimensional inspection/ Yu.V. Chugui, V.I. Ladigin, A.I. Pastushenko, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Laser Metrology 1999: Proc. of the Intern. Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi Jr. Florianopolis, Brazil, October 13-15, 1999. - P. 2.22 – 2.29.

10    Golubev I.V. Triangulation range finder with structured light / I.V. Golubev, S.V. Plotnikov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice  Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.  -  P. 157-160.

11    Kiryanov V.P. Laser nanointerferometry of displacement: Methods and means of measurement accuracy improvements // ICONO'98: Quantum Optics, Interference Phenomena in Atomic Systems, and High-Precision Measurements: Proc. of 16th Intern. Conference on coherent and nonlinear optics, Moscow, Russia, June 29-July 3, 1998.  - Moscow, 1999. - P. 410-415. – (Proc. SPIE; Vol. 3736).

12    The optical shadow systems for noncontact dimensional inspection / O.G. Gromilin, K.I. Kutchinsky, V.I. Ladigin, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice  Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.  -  P. 182-184.

Тезисы докладов в сборниках  международных конференций

 1.       Бережная П.Е., Ступак М.Ф. Нелинейно-оптический экспрессный контроль кристаллических параметров поверхности и объёмных деформаций полупроводниковых материалов // Международная конференция молодых ученых и специалистов "Оптика’99": Тезисы докладов, С.-Петербург, 19-21 октября, 1999. -  С.149.

2.       Гудаев О.А., Малиновский В.К.. Универсальные закономерности транспорта заряженных носителей в неупорядоченных материалах  // Стекла и твердые электролиты: Тез. докл. Межд. конф. С. Петербург, 17 – 19 мая, 1999. -  C. 105.

3.        Канаев И.Ф., Тюриков В.И. Реальная структура монокристаллов a-LiIO3  // Кристаллы; рост, свойства, реальная структура, применение. Тез. докл. IV Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 – 22 октября, 1999. -  C. 124-125.

4.       Павлов А.А., Чугуй Ю.В. Анализ дифракционного оля кругового металлического цилиндра // Международная конференция молодых ученых и специалистов "Оптика’99": Тезисы докладов, С.-Петербург, 19-21 октября, 1999. -  С.14.

5.       Growth channel defects in single crystal / I.F. Kanaev, V.I. Tyurikov, E.G. Tsvetkov, V.N. Shlegel // Single crystal growth, strength problems and heat mass transfer: Abstracts Third International conference, Obninsk, 1999. -  P. 145-146.

6.       Gas-phase synthesis and physical properties of C70 films/ O.A Gudaev, S.B. Zikirin, I.N. Kipriyanov, B.K. Malinovsky, N.V. Surovtsev, A.V. Okotrub, Yu.V. Shevtsov, Yu.A. Yanovsky  //  4th Biennial International Workshop in Russia Fullerenes and atomic clusters: Abstracts of Invited Lectures and contributed papers. Russia, St. Peterburg, October 4-8, 1999. -  P. 97.

Постер

 Fabrication of high-efficiency diffractive optical elements with application of LDW-glass/ V.P. Korol’kov, A.I. Malyshev, V.G. Nikitin, A.G. Poleshchuk, C. Wu // Jena’99 Diffractive Optics: Abstracts of EOS Topical Meeting Digest Series, Jena, 23-25 August, 1999. -  V. 22. -  P. 189-190.

 Охранные документы

 Кащеев К.П., Воробьев В.В., Фомичева И.А. Устройство для лазерной обработки:  Патент РФ № 2127179.

 

 
 Copyright (C) 2005, TDISIE