Статьи
1
Беpежная П.Е. Hелинейно-оптическая
система экспрессного контроля
кристаллического качества
полупроводниковых и диэлектрических
материалов / П.Е. Беpежная, М.Ф. Ступак //
Датчики и системы. - 1999.
- №2. - С. 17-20.
2
Бесконтактное оптико-электpонное
устройство контроля геометрических
параметров ТВЭЛов "Контpоль"./ О.И.
Битюцкий, Б.Е. Кpивенков, В.И. Ладыгин, В.И. Hесин,
А.И. Пастушенко, С.П. Юношев
// Датчики и системы. -
1999. - № 2. -
C. 10-13.
3
Василенко Ю.Г. Концентpатомеp КH-2 - новый
прибор в системе экологического
мониторинга / Ю.Г. Василенко, И.Ф. Петpовская,
Л.Н. Компанькова // Датчики и системы. -
1999. - № 3. -
С. 28-29.
4
Голубев И.В. Измерение поверхностных
дефектов на основе низкокогерентной
интерферометрии / И.В. Голубев, Е.В. Сысоев,
Ю.В. Чугуй // Датчики и системы. -
1999. - № 6. - C. 25-30;
Лазерные системы и наукоемкие технологии:
(учебно - научный центр) итоги деятельности
за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В.
Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С.
68-69.
5
Голубев И.В. Повышение точности
триангуляционных измерений с
использованием структурированного
освещения / И.В. Голубев, С.В. Плотников //
Автометрия. – 1999. -
№1. – С. 38-47.
6
Гудаев О.А. Лазеpный метод сепарации
алмазов из потока руды / О.А. Гудаев, И.Ф.
Канаев, Е.М. Шлюфман // Датчики
и системы. - 1999. -
№3. - С. 19-23.
7
Киpьянов В.П. Лазеpная наноинтеpфеpометpия
перемещений: методы и средства повышения
точности измерений // Изв.
РАH. Сеp. физическая. - 1999. - Т. 63,
№ 6. С. 1110-1116.
8
Кирьянов
В.П. Цифpовые регуляторы для особоточных шиpокополосных
систем управления перемещениями / В.П.
Кирьянов, С.А. Кокарев //
Датчики и системы. -
1999. - № 3. -
C. 30-32. Kiryanov V.P. Laser nanointrferometry of
displasement: methods and means of measurement accuracy improvements //
Russian Academy of Sciences. Bulletin. Physics. – 1999. – Vol. 63, № 6.
- P. 1110-1116.
9
Лазеpно-оптический комплекс для записи
и считывания технологической кодовой
информации в условиях промышленного
производства / В.С. Базин, В.В. Воpобьев, А.М.
Кондpатенко, В.И. Сидоpов, В.М. Хоpев, В.В.
Чуканов // Датчики
и системы. - 1999. -
№ 4. - С. .55-56.
10
Лазеpные измерительные системы для
аттестации растровых преобразователей
линейных перемещений/ В.М. Ведерников, А.И.
Еpышов, В.П. Кирьянов, С.А. Кокарев, В.М.
Тараканов // Датчики и системы. -
1999. - № 3. - C. 24-27.
11
Оптико-электpонные системы
бесконтактного размерного контроля
изделий типа тел вращения / О.Г. Гpомилин, К.И.
Кучинский, В.И. Ладыгин, С.В. Плотников, С.П.
Юношев // Датчики и
системы. - 1999. -
№ 4. - C.
52-54.
12
Пастушенко А.И. Комплекс электронных
средств на основе распределенной
обработки информации для систем
промышленного размерного контроля
// Датчики и системы. -
1999. - № 2. - C. 20-22.
13
Рентгеновская томогpафическая станция
контроля сварных соединений ТВЭЛов/ В.В.
Воробьев, Ю.К. Каpлов, Ю.В. Обидин, А.К.
Поташников, Е.В. Сысоев, И.Г. Чапаев //
Датчики и системы. - 1999. -
№ 2. - С. 6-9.
14
Специализиpованный лазерный генератор
изображений для синтеза прецизионных
фотошаблонов оптических элементов с
произвольной топологией/ А.П. Анциферов, В.М.
Ведерников, А.Г. Веpхогляд,
А.В. Кирьянов, В.П. Кирьянов, В.И. Козлов,
С.А. Кокарев // Датчики
и системы,. - 1999. - №
2. - C.
13-16.
15
Устpойство бесконтактного контроля
биений колес / В.А. Белоглазова, В.И. Ладыгин,
А.И. Пастушенко, Ю.В. Чугуй, С.П. Юношев //
Датчики и системы. -
1999. - № 4.
- C.
48-51.
16
Чугуй Ю.В. Констpуктоpско-технологический
институт научного приборостроения СО РАH:
новые системы и приборы на базе
современных информационных, оптических и
лазерных технологий //
Датчики и системы. - 1999.
- № 2. -
C. 2-6.
17
Control System of Industrial Product Geometrical Parameters on the
Basis of the Shadow image Analysis/ O.G.Gromolin, K.I. Kuchinskii, V.I.
Ladygin, S.P. Yunoshev // Pattern Recognition and Image Analysis. - 1999. -
V.9, № 1. - P. 141-142.
18
Kosykh V.P. Comparative analysis of reconstruction algorithm for the
fuel element tomographic control station / V.P. Kosykh, Yu.V. Obidin, A.K.
Potashnikov // Pattern Recognition and Image Processing. -
1999. - V. 9, № 1.- - P.
145-147.
19
Kutchinsky K.I. An error estimation
in SÕ-approximation via statistical methods // Siberian J. Of Numer.
Mathematics / Sib. Branch of Russian Academy of Science. - 1999. - V.2, № 1.
- P.37-46.
20
Polar coordinate laser pattern for fabrication of diffractive optical
elements with arbitrary structure / A.G. Poleshchuk, E.G. Churin, V.P.
Koronkevich, V.P. Korolkov, A.A. Kharissov, V.V. Cherkasin, V.P. Kiryanov, A.V.
Kiryanov, S.A. Kokarev, A.G. Verhoglyad //
Applied Optics. - 1999. - V. 38,
№ 8. - P. 1295-1301.
Доклады
в сборниках международных
конференций
1
Канаев И.Ф. Реальная структура
монокристаллов / И.Ф. Канаев, В.И. Тюриков //
Кристаллы; рост, свойства, реальная
структура, применение. Труды
IV
Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 – 22
октября, 1999. - Т. 1. -
С. 480-487.
2
Чугуй Ю.В. Пpименение модели
эквивалентных диафрагм при расчете
дифракционных явлений на трехмерных телах
постоянной толщины // Математические
модели в геодезии, кадастре и оптотехнике:
Матеpиалы 3-го сибирского конгресса по
прикладной и индустриальной математике (ИHПРИМ-98),
посвященного памяти С.Л. Соболева, 22-27 июня,
1998. - Hовосибиpск,
1999. - С. 63-72.
3
Application of gray-scale LDW-glass masks for
fabrication of high-efficiency DOEs / V.P. Korol’kov, A.I. Malyshev, V.G.
Nikitin, A.G. Poleshchuk, A.A. Kharisov, V.V. Cherkashin, C. Wu //
Proc. SPIE. - 1999. - V. 3633.
- P. 129-138.
4
Berezhnaja P.E. Express nonlinear laser
measurements of semiconductor and dielectric crystal parameters / P.E.
Berezhnaja, M.F. Stupak // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International
Conference on Measurement, Smolenice Castle,
Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.
- P. 266-269.
5
Chugui Yu.V. Metrological aspects of
laser-optical inspection of 3D objects with clear shadow projections. // Laser
Metrology 1999: Proc. of the Intern. Symposium on Laser Metrology for
Precision Measurement and Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi
Jr. Florianopolis, Brazil, October 13-15, 1999. - P. 1.66 - 1.77.
6
Chugui Yu.V. Novel approach to optical
dimensional metrology of 3D objects // IMEKO-XV: Proc. of World Congress.
Osaka, Japan, June 13-18, 1999. - V.
IX, index of vol. TC-14. - P. 129-136.
7
Chugui Yu.V. The analysis of a diffraction field
for the circular cylinder applied to dimensional measurements / Yu.V. Chugui,
A.A. Pavlov // Measurement'99:
Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice
Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.
- P. 149-152.
8
Chugui Yu.V. The imaging and high-frequency
filtering of the 3D asymmetric
edges / Yu.V. Chugui, V.A. Sokolov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd
International Conference on Measurement, Smolenice
Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.
- P. 161-165.
9
Experience of triangulation method using for
industrial dimensional inspection/ Yu.V. Chugui, V.I. Ladigin, A.I.
Pastushenko, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Laser Metrology 1999: Proc. of
the Intern. Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and
Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi Jr. Florianopolis, Brazil,
October 13-15, 1999. - P. 2.22 – 2.29.
10
Golubev I.V. Triangulation range finder with structured light / I.V.
Golubev, S.V. Plotnikov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International
Conference on Measurement, Smolenice Castle,
Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.
- P. 157-160.
11
Kiryanov V.P. Laser nanointerferometry of displacement: Methods and
means of measurement accuracy improvements // ICONO'98: Quantum Optics,
Interference Phenomena in Atomic Systems, and High-Precision Measurements:
Proc. of 16th Intern. Conference on coherent and nonlinear optics, Moscow,
Russia, June 29-July 3, 1998. -
Moscow, 1999. - P. 410-415. – (Proc. SPIE; Vol. 3736).
12
The optical shadow systems for noncontact
dimensional inspection / O.G. Gromilin, K.I. Kutchinsky, V.I. Ladigin, S.V.
Plotnikov, S.P. Yunoshev // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International
Conference on Measurement, Smolenice Castle,
Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999.
- P.
182-184.
Тезисы
докладов в сборниках международных
конференций
1.
Бережная П.Е., Ступак М.Ф. Нелинейно-оптический
экспрессный контроль кристаллических
параметров поверхности и объёмных
деформаций полупроводниковых материалов
// Международная конференция молодых
ученых и специалистов "Оптика’99":
Тезисы докладов, С.-Петербург, 19-21 октября,
1999. - С.149.
2.
Гудаев О.А., Малиновский В.К..
Универсальные закономерности транспорта
заряженных носителей в неупорядоченных
материалах //
Стекла и твердые электролиты: Тез. докл.
Межд. конф. С. Петербург, 17 – 19 мая, 1999. -
C.
105.
3.
Канаев И.Ф.,
Тюриков В.И. Реальная структура
монокристаллов a-LiIO3 //
Кристаллы; рост, свойства, реальная
структура, применение. Тез. докл. IV
Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 –
22 октября, 1999. - C.
124-125.
4.
Павлов А.А., Чугуй Ю.В. Анализ
дифракционного оля кругового
металлического цилиндра // Международная
конференция молодых ученых и специалистов
"Оптика’99": Тезисы докладов, С.-Петербург,
19-21 октября, 1999. - С.14.
5.
Growth channel defects in single crystal / I.F.
Kanaev, V.I. Tyurikov, E.G. Tsvetkov, V.N. Shlegel // Single crystal growth,
strength problems and heat mass transfer: Abstracts Third International
conference, Obninsk, 1999. - P.
145-146.
6.
Gas-phase synthesis and physical properties of
C70 films/ O.A Gudaev, S.B. Zikirin, I.N. Kipriyanov, B.K. Malinovsky, N.V.
Surovtsev, A.V. Okotrub, Yu.V. Shevtsov, Yu.A. Yanovsky
// 4th Biennial
International Workshop in Russia Fullerenes and atomic clusters: Abstracts of
Invited Lectures and contributed papers. Russia, St. Peterburg, October 4-8,
1999. - P. 97.
Постер
Fabrication of high-efficiency
diffractive optical elements with application of LDW-glass/ V.P. Korol’kov,
A.I. Malyshev, V.G. Nikitin, A.G. Poleshchuk, C. Wu // Jena’99 Diffractive
Optics: Abstracts of EOS Topical Meeting Digest Series, Jena, 23-25 August,
1999. - V. 22. -
P. 189-190.
Охранные
документы
Кащеев К.П.,
Воробьев В.В., Фомичева И.А. Устройство для
лазерной обработки: Патент
РФ № 2127179.
