-
2018
e-mail: info@tdisie.nsc.ru
-
1-2

Зав лабораторией



Тел: +7(383)306-62-12
E-mail:

Лаборатория оптических измерительных систем в 2000 году была выделена из лаборатории ОНИЛ ТЗ в связи с развитием нового направления исследований.
   ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ
• исследование проблем оптического восприятия трехмерных объектов
• формирование изображений и дифракционных картин трехмерных объектов
• оптическая размерная метрология на основе различных методов измерений (интерференционного, структурного освещения)
• разработка и изготовление проблемно-ориентированных измерительных систем

Одним из направлений деятельности лаборатории является разработка оптико-электронных систем бесконтактного измерения профиля и качества поверхностей промышленных изделий. В основе работы таких систем лежит использование особенностей явления интерференции низкокогерентных световых полей.
Применение последних достижений в области оптических и электронных компонентов, схемо-технических решений и аппаратно-программных средств позволило в короткие сроки создавать уникальные измерительные комплексы.

Одним из примеров является измерительный комплекс "Радар", предназначенный для бесконтактного измерения дефектов на поверхности тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) АЭС. Этот комплекс разрабатывался в составе лаборатории технического зрения. Система обеспечивает измерение профиля участка поверхности 2.3 x 2.3 мм и глубиной профиля до 10 мм с погрешностью не более 2 мкм. Время измерения дефекта глубиной 50 мкм - менее 15 сек. Результаты измерения представляются в виде трехмерной модели и записываются в базу данных для дальнейшего детального анализа.
2001 году в интересах ОАО «ТВЭЛ» автоматизированная система «Профиль»  для измерений глубины и профиля дефектов поверхности оболочки и концевых деталей твэл, которая является компьютеризированным цифровым интерференционным микроскопом, адаптированным к работе в условиях промышленного производства. Более 16 лет установки «Профиль» эксплуатируются на ПАО «НЗХК» и зарекомендовали себя как надежные измерительные системы. Разрешение указанных систем не хуже 0,5 мкм, время измерения одной дефектной позиции - 15 сек. Надежный контроль поверхностных дефектов оболочки твэл позволяет гарантировать высокое качество выпускаемой продукции. Две системы  используются по прямому назначению для входного и выходного контроля качества поверхности оболочек твэл. Третья система эксплуатируется для аттестации различных стандартных образцов, в том числе образцов шероховатости. Установка  в ПАО «НЗХК» позволила решить задачу автоматизированного контроля внешнего вида оболочки твэл, что ранее не было реализовано ни в одном производстве, как в России, так и за рубежом.
Начиная с 2008 года основным направлением деятельности лаборатории стали работы в области наноизмерений, в результате которых создан цифровой интерференционный микроскоп нанопрофилометр «МНП-1»  для измерений рельефа поверхностей с микро-, нано- и субнанометровым разрешением. Использование атомногладкого зеркала в опорном плече микроскопа позволило достичь рекордной для оптических профилометров разрешающей способности по высоте 30 пикометров и визуализировать монатомные террасы на поверхности кремния высотой в одно межатомное расстояние (~3 ангстрема).
В 2017 году лабораторией в интересах ООО «Нанокерамикс» проведена модернизация интерференционного микроскопа МИИ-4 с целью автоматизации и объективизации измерения нанорельефа поверхности изделий из сверхплотной керамики.

Лабораторией оптических измерительных систем создан ряд интересных разработок:
• Контроллер управления монохромными ПЗС линейками;
• Универсальная системa контроля геометрических параметров тележек вагонов и локомотивов на ЗСЖД;
• Программное обеспечение лазерного технологического комплекса.
• Программное обеспечение для автоматизированной системы физического моделирования геодинамических процессов в блочных средах (сбора, обработки и отображения данных, поступающих с группы датчиков перемещения).