Главная Институт Наука www.tdisie.nsc.ru English version Сайт Президиума СО РАН

РАЗРАБОТКИ ИНСТИТУТА



3D измерительные технологии и СТЗ для атомной промышленности

  "Контроль"
  "Размер"
  "Решетка"
  "МКСТ"
  "Дефект"
  "Диск"
  "Буер"
  "Град"
  "Град-2"
  "Бурун"
  "Блок"
  "Профиль"
  "Нанопрофилометр"
  "Томограф"
  "УКВр-1"
  "Себрон-Н"
  "Сердечник"
  "СКРол-1"
  "Вид+дефект"
  "Оптико-электронный
анализатор спектра"



Измерительные системы для горнодобывающей, алмазодобывающей, нефтяной промышленности

  "Сепаратор"
  "РЛС-Ц"
  "Источник"
  "Универсал"
  "МИРИ"
  "Сито"
  "Шлиф"
  "АРЦ-10"
  "Сахалин"



Лазерные технологии для оптико-механической, аэрокосмической промышленности и научных исследований

  "CLWS-300"
  "Л Г И-2"
  "LSP-2000"
  "КРТ"
  "СПИЦА"
  "АСУ ТП ТВИ"
  "АСО МИ"
  "ККРВ ФКИ"
  "БИПЛАН"



Измерительные технологии и СТЗ для промышленности и ж/д транспорта

  "Комплекс"
  "Лабракон"
  "Промышленная"
  "Пантограф"
  "Контакт"
  "Станок"
  "Накопитель"
  "Стеллаж"
  "Мойка"
  "Ролик"
  "Кольцо"



АРХИВ РАЗРАБОТОК


ГОРЯЧЕЕ ПРЕДЛОЖЕНИЕ>


"СИТО"

СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ АНАЛИТИЧЕСКИХ СИТ


НАЗНАЧЕНИЕ
Технологический контроль размеров отверстий и их межцентровых расстояний в ситовом полотне.


Карта сита

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Диаметр измеряемых отверстий от 1 до 5,5 мм
Погрешность измерения диаметра отверстия ± 3 мкм
Диапазон перемещений стола по осям X и Y 0 - 200 мм
Погрешность отсчета позиции стола ± 20мкм
Погрешность измерения межцентровых расстояний ± 40 мкм
Время измерения одного отверстия не более 1 с
Время перемещения в соседнюю позицию не более 2 с

ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
  • автоматический и интерактивный режим работы
  • автоматическое определение типа сит
  • автоматическое обнаружение и измерение отверстий
  • допусковый контроль
  • оперативная визуализация результатов контроля и их сохранение в базе данных
  • построение карты расположения дефектных отверстий
  • выдача паспорта на бездефектное сито
  • самотестирование
  • автоматизированная калибровка
  • выдача сертификата на контролируемое сито

Система может использоваться в различных отраслях промышленности для контроля аналитических сит.


МИРИ ШЛИФ