Главная Институт Наука www.tdisie.nsc.ru English version Сайт Президиума СО РАН

РАЗРАБОТКИ ИНСТИТУТА



3D измерительные технологии и СТЗ для атомной промышленности

  "Контроль"
  "Размер"
  "Решетка"
  "МКСТ"
  "Дефект"
  "Диск"
  "Буер"
  "Град"
  "Град-2"
  "Бурун"
  "Блок"
  "Профиль"
  "Нанопрофилометр"
  "Томограф"
  "УКВр-1"
  "Себрон-Н"
  "Сердечник"
  "СКРол-1"
  "Вид+дефект"
  "Оптико-электронный
анализатор спектра"



Измерительные системы для горнодобывающей, алмазодобывающей, нефтяной промышленности

  "Сепаратор"
  "РЛС-Ц"
  "Источник"
  "Универсал"
  "МИРИ"
  "Сито"
  "Шлиф"
  "АРЦ-10"
  "Сахалин"



Лазерные технологии для оптико-механической, аэрокосмической промышленности и научных исследований

  "CLWS-300"
  "Л Г И-2"
  "LSP-2000"
  "КРТ"
  "СПИЦА"
  "АСУ ТП ТВИ"
  "АСО МИ"
  "ККРВ ФКИ"
  "БИПЛАН"



Измерительные технологии и СТЗ для промышленности и ж/д транспорта

  "Комплекс"
  "Лабракон"
  "Промышленная"
  "Пантограф"
  "Контакт"
  "Станок"
  "Накопитель"
  "Стеллаж"
  "Мойка"
  "Ролик"
  "Кольцо"



АРХИВ РАЗРАБОТОК


ГОРЯЧЕЕ ПРЕДЛОЖЕНИЕ>


"ПРОФИЛЬ"

ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ


НАЗНАЧЕНИЕ
Автоматические бесконтактние измерения глубины и профиля дефектов на поверхности оболочки тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) атомных электростанций.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Диапазон X x Y

Разрешение по глубине

Погрешность измерения по глубине
2.3 мм x 2.3 мм

1 мкм

5 мкм
Диапазон по глубине Z

Время измерения
<10 мм

<15 c (глубина 50 мкм)

Дефект "риска"

ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ
Основан на использовании интерференции частично-когерентного света. При измерении производится автоматическое сканирование по глубине профиля поверхности, содержащей дефект. В результате сканирования получается набор изолиний профиля измеряемого участка поверхности. По этому набору изолиний рассчитывается профиль этого участка поверхности. Применение прямого метода измерений, при котором регистрируются непосредственно координаты точек поверхности, позволяет обеспечить высокую точность и достоверность результатов.

ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКИЕ ПРЕИМУЩЕСТВА
  • малое время измерения
  • в результате измерения на экране монитора отображаются:
      - общий вид дефекта в виде трехмерной модели
      - карта изолиний глубины
      - профиль выбранного сечения поверхности, по которому можно определить параметры измеренного   дефекта
  • профиль измеренного дефекта записывается в базу данных для последующего просмотра

ПАТЕНТНАЯ ЗАЩИТА
  • Получен патент на способ измерения профиля поверхности №2258017.
  • Система внесена в Госреестр в качестве средства измерения (№ 24403-03), получен сертификат Госстандарта России (RU.C.27.007.A № 14245).

Система с 2002 г. находится в промышленной эксплуатации в ОАО "НЗХК" (г. Новосибирск)


БЛОК НАНОПРОФИЛОМЕТР